X射線測(cè)厚儀是解決鍍金層，鍍銀層，鍍鎳層厚度測(cè)試的儀器，具備無損分析，快速測(cè)試，簡(jiǎn)便操作的特性，分析范圍是0-50微米，不同的鍍層種類都有特定的極限穿透厚度，其分析精度達(dá)0.005微米，thick800aX射線測(cè)厚儀由江蘇天瑞儀器公司研發(fā)，生產(chǎn)的，的高科技分析儀，產(chǎn)品榮獲國(guó)家分析儀器產(chǎn)品獎(jiǎng)。隨著市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)日益激烈，企業(yè)成本的不斷提高，客戶對(duì)X射線測(cè)厚儀（THICK800A)的測(cè)試精度要求越來越高，普通的電鍍膜厚測(cè)試儀無法滿足客戶的要求，X射線測(cè)厚儀通過X射線照射，不同元素的發(fā)射出不同能量及強(qiáng)度的X光，通過接收器及軟件分析來分析金屬（鋁合金、銅合金）電鍍層（鍍鋅、鍍鎳、鍍金、鍍銀、鍍錫等）的厚度，天瑞儀器是X射線測(cè)厚儀（國(guó)產(chǎn)）廠家，*無損分析，多一次分析五層，薄可分析0.005μm，采用上照式照射，移動(dòng)探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，可以對(duì)凹面和凸面達(dá)到更好的測(cè)試效果，完成下照式對(duì)某些特殊樣品無法測(cè)試的效果。 

性能特點(diǎn)

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

技術(shù)指標(biāo)

型號(hào)：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析檢出限可達(dá)2ppm，薄可測(cè)試0.005μm。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%
*工作穩(wěn)定性可達(dá)0.1%
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

開放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).
金屬鍍層的厚度測(cè)量 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。