天瑞熒光X射線鍍層測厚儀售后服務(wù)

天瑞儀器作為一個集儀器研發(fā)、系統(tǒng)設(shè)計、產(chǎn)品生產(chǎn)、服務(wù)提供為一身的綜合性儀器供應(yīng)廠商，熒光X射線鍍層測厚儀生產(chǎn)企業(yè)，一直以來嚴格遵循“360°優(yōu)質(zhì)服務(wù)”的客戶服務(wù)理念，以提高顧客滿意度為根本目標，從服務(wù)力量、服務(wù)流程、服務(wù)內(nèi)容等各個方面為客戶提供*的優(yōu)質(zhì)服務(wù)。

    我公司為客戶提供技術(shù)咨詢、方案設(shè)計、技術(shù)交流、產(chǎn)品制造、系統(tǒng)集成、現(xiàn)場勘察、工程實施、技術(shù)培訓(xùn)、故障處理、回訪、巡檢等全過程、*、全系列的服務(wù)。這些不僅讓客戶體驗到天瑞儀器高質(zhì)量的服務(wù)，更為客戶創(chuàng)造了更高的價值。

“快速、準確、到位”的服務(wù)

長保修期

個性化服務(wù)

維護費用

短交貨時間

快安裝

短維修周期

天瑞熒光X射線鍍層測厚儀性能優(yōu)勢

快速

1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。

方便

熒光x射線測厚儀部分機型采用進口上*的電制冷半導(dǎo)體探測器，能量分辨率更優(yōu)于135eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。

無損

測試前后，樣品無任何形式的變化。

直觀

實時譜圖，可直觀顯示元素含量。

測試范圍廣

熒光X射線鍍層測厚儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。

可靠性高

由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以，其測量的可靠性更高。

滿足不同需求

測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種*的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。

性價比高：相比化學(xué)分析類儀器，熒光x射線測厚儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。

簡易

對人員技術(shù)要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。

全自動智能控制方式，一鍵式操作!

開機自動自檢、復(fù)位；

開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣；

關(guān)蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦；

直接點擊全景或局部景圖像選取測試點；

點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示結(jié)果。

熒光X射線鍍層測厚儀技術(shù)指標

產(chǎn)品名稱：熒光X射線鍍層測厚儀

X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度：小于0.1um

操作環(huán)境濕度：≤90%

操作環(huán)境溫度：15℃～30℃

分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）

同時檢測元素：多24個元素，多達5層鍍層

分析含量：一般為2ppm到99.9%

鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）

SDD探測器：分辨率低至135eV

*的微孔準直技術(shù)：小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm

樣品觀察：配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭

準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合

儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm

X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

熒光X射線鍍層測厚儀鍍層部分產(chǎn)品

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